2529698.ru
тел. 8 (495) 741 28 46
тел. 8 (499) 943 82 35

Где К — коэффициент пропорциональности (согласно единой сенситометрической методике К = 10 8 ). Если Е0 измеряется в люксах, а t — в минутах,

Для негативных копировальных слоев такая кривая характеризует зависимость толщины слоя от величины экспозиции Н или логарифма экспозиции (рис. 4.2, кривая 1). Использование толщины

Применение методов определения 5. Рассмотренные методы оценки светочувствительности во многом условны, а в ряде Случаев и неправомерны (например,

Коэффициент контрастности у характеризует убыль толщины h позитивного копировального слоя (для негативного слоя ее прирост) при увеличении логарифма экспозиции (lg Н) в пределах линейного участка характеристической кривой, поэтому Методы

В связи со сложностью этой методики на практике коэффициент контрастности и широту оценивают более простым способом по количеству полей полутоновой шкалы, воспроизведенных на копии между полностью проявленным полем и полем, с копировальным слоем (для случаев, представленных на рис. 4.1, это количество равно трем). Заметим, что уменьшение числа

Копировальные слои различных типов характеризуются находящейсяв следующих областях длин волн: • гидрофильные полимеры с диазосоединениями — 330-430 нм; • слои на основе диазосоединений (ОНХД) — 320-460 нм; • фотополимеризуемые

Где рλ — спектральный коэффициент отражения; кλ — спектральный показатель поглощения слоя; кλ - спектральный показатель поглощения светочувствительного вещества; Сi — показатель, учитывающий поверхностную плотность энергии, которая необходима слою при полном

Количественно связь между S и толщиной слоя устанавливается в соответствии с законом БугераЛамбертаБэра:  Где Н — экспозиция

Условия изготовления копий — это условия экспонирования (спектральный состав действующего излучения, величина экспозиции, температура и влажность окружающего воздуха) и условия проявления (температура, время и способ проявления). На степень физико-химических превращений в копировальном слое, приводящих в конечном итоге к изменению его S,

Методы определения разрешающей способности. Для определения разрешающей способности используются специальные миры. На рис. 4.7 приведены некоторые из наиболее часто используемых мир, скомплектованных в виде круговых 1, веерообразных 2, прямоугольных 3-5 структур, в том числе, ориентированных в различных направлениях 3. Такие миры состоят из